Некоторые основные положения универсальной теории пространства (УТП)
Ключевые слова:
система, структура пространства, фрактал, гиперсфераАннотация
Подробно изложены основные принципы универсальной теории пространства: принцип фрактального подобия, принцип абсолютной согласованности (когерентности) и принцип наличия базовых констант.
Библиографические ссылки
Алексейцев А. В., Бельская Г. Н., Бонштедт Б. Э., Егорова Н. Б., Марголин В. И., Потсар Н. А., Серов И. Н. Исследование влияния фрактально-матричных транспарантов на свойства получаемых тонкопленочных структур // Тез. докл. XIX Российской конференции по электронной микроскопии. 28 мая — 31 мая 2002 г. — Черноголовка, 2002. — С. 26.
Серов И. Н., Алексейцев А. В., Бельская Г. Н., Бонштедт Б. Э., Егорова Н. Б., Марголин В. И. Применение фрактально-матричных транспарантов AIRES для активации процессов самокоррекции в тонкопленочных структурах // Тез. докл. Четвертого Международного семинара «Нелинейные процессы и проблемы самоорганизации в современном материаловедении». 3 — 6 октября 2002 г. — Астрахань.
Серов И. Н., Бельская Г. Н., Жабрев В. А., Марголин В. И., Мошников В. А., Потсар Н. А., Солтовская И. А., Чеснокова Д. Б. Исследование возможности получения фрактально-структурированных тонких пленок // Материалы научно-практической конференции МОМ «Новые функциональные материалы и экология». — М., 2002. — С. 73–75.
Серов И. Н., Бельская Г. Н., Солтовская И. А., Жабрев В. А., Марголин В. И., Мошников В. А., Потсар Н. А. Исследование фрактально-структурированных тонких пленок // Тез. докл. IV Межд. научно-техн. конф. «Электроника и информатика». Ч. 1. — М., 2002. — С. 123–124.
Серов И. Н., Бельская Г. Н., Марголин В. И., Потсар Н. А. Влияние фрактально-матричных резонаторов на свойства получаемых тонких пленок меди // Письма в ЖТФ. Т. 28. Вып. 24. 2002. — С.68–75.
Серов И. Н., Бельская Г. Н., Голубченко Н. В., Жабрев В. А., Иошт М. А., Кощеев С. В., Максимов А. И., Марголин В. И., Мошников В. А., Потсар Н. А., Солтовская И. А., Чеснокова Д. Б. Исследование влияния структуризаторов электромагнитного поля на морфологию и свойства получаемых тонких пленок // Материалы V международной конф. «Действие электромагнитных полей на пластичность и прочность материалов». 14 — 15 февр. 2003 г. — Воронеж. — С. 138.
Серов И. Н., Лукьянов Г. Н., Марголин В. И., Мошников В. А. Обработка трехмерного изображения поверхности // Материалы V международной конф. «Действие электромагнитных полей на пластичность и прочность материалов», 14 — 15 февр. 2003 г. — Воронеж. — С. 139–140.
Серов И. Н., Бельская Г. Н., Марголин В. И., Мошников В. А., Потсар Н. А., Солтовская И. А. Применение метода магнетронного распыления для получения структурированных тонких пленок // Изв. РАН. Сер. Физическая. — 2003. — Т. 67. — № 4. — С. 587–590.
Серов И. Н., Жабрев В. А., Марголин В. И. Проблемы нанотехнологии в современном материаловедении // Физика и химия стекла. — 2003. — Т. 29. — № 2. — С. 242–256.
Серов И. Н., Алексейцев А. В., Бельская Г. Н., Бонштедт Б. Э., Егорова Н. Б., Солтовская И. А., Марголин В. И. Применение фрактально-матричных резонаторов для активации процессов самокоррекции в тонкопленочных структурах // Вестник ВГТУ. Сер. «Материаловедение». Вып. 1.12. — Воронеж, 2002. — С. 48 — 52.
Серов И. Н., Марголин В. И., Мошников В. А., Кощеев С. В., Максимов А. И., Потсар Н. А., Чеснокова Д. Б. Влияние фрактально-матричных резонаторов на структуру пленок меди // Физика и химия обработки материалов. — 2003. — № 2. — С. 16–20.
Серов И. Н., Бельская Г. Н., Марголин В. И., Солтовская И. А. Исследование структурированных тонких пленок меди на стеклянных и кремниевых подложках // Труды XIX Всероссийского совещания «Температуроустойчивые функциональные покрытия». — СПб.: Янус, 2003. — С. 75–81.
Серов И. Н., Бельская Г. Н., Марголин В. И., Потсар Н. А., Солтовская И. А. «Эффект памяти», проявляющийся при магнетронном ионном распылении меди в присутствии фрактально-матричных структуризаторов «Айрэс» // Труды XIX Всероссийского совещания «Температуроустойчивые функциональные покрытия». — СПб.: Янус, 2003. — С. 81–85.
Серов И. Н., Марголин В. И. Фрактально-матричные топологии в нанотехнологии // Труды XIX Всероссийского совещания «Температуроустойчивые функциональные покрытия». — СПб.: Янус, 2003. — С. 85–91.
Серов И. Н., Марголин В. И. Применение фрактально-матричных резонаторов в процессах получения тонких наноразмерных пленок // Сборник докладов Межд. научно-практич. симпозиума «Функциональные покрытия на стеклах». — Харьков: НИЦ ХФТИ, «Константа», 2003. — С. 29–50.
Серов И. Н., Бельская Г. Н., Кощеев С. В., Марголин В. И., Мошников В. А., Чеснокова Д. Б. Исследование возможности получения наноразмерных структурированных пленок // Сборник докладов 15-го Межд. симпозиума «Тонкие пленки в оптике и электронике». — Харьков: НИЦ ХФТИ, «Константа», 2003. — С. 14–18.
Серов И. Н., Иошт М. А., Кощеев С. В., Марголин В. И., Мошников В. А., Чеснокова Д. Б. Анализ структурных характеристик нанокристаллических слоев селенида свинца // Сборник докладов 15-го Межд. симпозиума «Тонкие пленки в оптике и электронике». — Харьков: НИЦ ХФТИ, «Константа», 2003. — С. 307–309.
Серов И. Н., Лукьянов Г. Н., Марголин В. И., Мошников В. А. Обработка электронно-микроскопического изображения поверхности // Тез. докл. XIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии РЭМ 2003. — Черноголовка, 2003. — С. 32.
Серов И. Н., Бельская Г. Н., Бычков Э. В., Иошт М. А., Кощеев С. В., Лукьянов Г. Н., Максимов А. И., Марголин В. И., Мошников В. А., Потсар Н. А., Румянцева А. И., Солтовская И. А. Исследование фрактальных тонкопленочных структур методами РЭМ и АСМ // Тез. докл. XIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии РЭМ 2003. — Черноголовка, 2003. — С. 58.
Серов И. Н., Бельская Г. Н., Кощеев С. В., Лукьянов Г. Н., Марголин В. И., Мошников В. А., Потсар Н. А., Румянцева А. И., Солтовская И. А. Исследования закономерностей образования микро- и нано-структур пленок меди // Тез. докл. XIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии РЭМ 2003. — Черноголовка, 2003. — С. 155.
Серов И. Н., Лукьянов Г. Н., Марголин В. И. Исследование процессов самоорганизации, инициируемых в наноразмерных пленках фрактально-матричными структуризаторами // Труды III Международного Конгресса «Слабые и сверхслабые поля и излучения в биологии и медицине». Т. III. — СПб.: Тускарора, 2003. — С. 49–50.
Serov I., Lukyanov G., Margolin V., Potsar N., Soltovskaya I., Fantikov V. An investigation into Nano-Sized Fractal Film Structures // Abstracts of Int. Conference «Micro- and nanoelectronics — 2003». 6-th — 10-th oct., 2003. — Moscow — Zvenigorod. C. P. 1–36.
Жабрев В. А., Марголин В. И., Серов И. Н. Кинетика межфазных реакций в силикатных системах // Труды Международной научно-практической конференции «Наука и технология силикатных материалов — настоящее и будущее». Т. 3. — М.: ЦПО «Информатизация образования», 2003. —С. 60–70.
Серов И. Н., Жабрев В. А., Марголин В. И., Тупик В. А. Организация межведомственной научно-исследовательской лаборатории «Фрактальная нанотехнология» // Мат-лы 2-ой научно-практ. конф. «Планирование и обеспечение подготовки кадров для промышленно-экономического региона». — СПб., 2003. — С. 143–147.
